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变温显微测试系统（MMS）变温光纤光谱测试系统（OMS）变温电阻测试系统（RMS）变温拉伸测试系统（SMS）介电温谱测试系统（DMS）霍尔效应测试仪（HEM）塞贝克系数测试仪（CCM）器件质检仪（TEAM）

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变温显微测试系统
重光变温显微测试系统是一套联用其他显微结构表征技术的冷热台型显微系统，适用于物相及其微结构分析。在超长的物镜、高精度、高灵敏温度控制和高质量的成像技术的加持下，MMS拥有更强大的样...

时间：2023-12-29型号：MMS访问量：1038

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变温光纤光谱测试系统
重光变温光纤光谱测试系统可以用于材料变温的光学透射或反射测量，也可以用于样品被紫外线或X射线激发后的光学测量。具体可应用于可见VIS光谱波段的变温测量、化学物质吸光度测量、高精度的...

时间：2023-12-29型号：OMS访问量：1102

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变温电阻测试系统
变温电阻测试系统（RMS）采用四探针法技术，具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品（康铜、镍、铋等）以及部分非金属样品（石墨、碳材料等）的电阻率。广泛应用于...

时间：2023-12-29型号：RMS访问量：2535

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变温拉伸测试系统
变温拉伸测试系统（SMS）广泛应用于科研领域的材料力学性能研究，可以用于各种金属材料、无机材料和高分子等材料的拉伸、压缩和扭转等力学试验。是研究材料变温力学性能，特别是低温情况下力...

时间：2023-12-29型号：SMS访问量：1277

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介电温谱测试系统
重光变温介电测试系统是用于研究材料介电性能研究的测试系统。电介质是指在电场作用下能够被电极化的绝缘体，通常使用相对介电常数和介质损耗来表征电介质的介电性能。为了研究电介质的介电性能...

时间：2023-12-29型号：DMS访问量：1351

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霍尔效应测试仪（HEM）
可用于一般半导体材料的霍尔系数、电阻率、电子迁移率、载流子浓度的常温测量，是研究半导体和电子材料的电子特性的重要工具。

时间：2023-6-14型号：HEM访问量：1164

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塞贝克系数测试仪（CCM）
可用于一般热电材料的SEEBECK系数常温测量，半导体制冷片的ZT值和电阻值测量，是热电材料和器件研究生产的重要工具。

时间：2023-6-14型号：CCM访问量：1475

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辐射制冷测量系统（PDRC）
PDRC可用于测量材料的辐射制冷功率，并对不同材料绝热条件下的辐射降温性能进行对比。其温控功能可使目标温度跟随环境温度，同时记录加热功率和太阳光辐射功率。在建筑材料和太空中辐射制冷...

时间：2023-6-14型号：PDRC访问量：1306

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